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  • [電纜]電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討

[電纜]電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討

描述:

本文以瓷基臺絕緣子為研究對象,首先分析了瓷基臺絕緣子的常見缺陷,然后分析了絕緣子故障檢測方法的優(yōu)缺點。見的支柱,例如超聲,紫外線成像和共振聲學(xué)。后,通過有限元仿真......

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  本文以瓷基臺絕緣子為研究對象,首先分析了瓷基臺絕緣子的常見缺陷,然后分析了絕緣子故障檢測方法的優(yōu)缺點。見的支柱,例如超聲,紫外線成像和共振聲學(xué)。后,通過有限元仿真分析了電場檢測在檢測瓷后絕緣缺陷中的可行性,并基于電場檢測原理,提出了一種用于檢測瓷后絕緣缺陷的應(yīng)用圖。出了后絕緣瓷器。絕緣子是網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)的重要組成部分,并用作支撐導(dǎo)體,斷路器和高壓開關(guān)。緣子會受到電,熱和機械應(yīng)力以及實際運行環(huán)境的影響。能將逐漸下降。果未及時發(fā)現(xiàn)基臺絕緣子故障和機械阻力,則電源設(shè)備可能無法正常運行,并導(dǎo)致突然的電氣事故。此,快速檢測極絕緣子運行中的故障是避免事故的關(guān)鍵。質(zhì)絕緣子主要由分布在玻璃基體中的剛玉,莫來石,石英和長石組成,基體和石英顆粒的線膨脹系數(shù)不同,導(dǎo)致出現(xiàn)缺陷。器零件中的微裂紋。于陶瓷材料是典型的脆性材料,因此裂紋很容易擴展并產(chǎn)生嚴重后果。柱式瓷絕緣子在操作過程中會承受電,熱和機械應(yīng)力以及艱苦的工作條件,并且會逐漸減小并劣化。紋是最重要的危險裂紋,會損壞絕緣子的機械性能。量研究表明,瓷柱絕緣子在使用過程中被損壞,制造過程落后,產(chǎn)品質(zhì)量不高,這是造成裂紋的原因。絕緣柱的晶體組成越高,其機械強度越強。體顆粒在絕緣體的制造過程中經(jīng)受拉應(yīng)力。燒后冷卻陶瓷產(chǎn)品時,應(yīng)力會導(dǎo)致結(jié)晶顆粒,玻璃基體上和極限處會出現(xiàn)微裂紋[1-2]。外,瓷絕緣子還可能具有制造缺陷,例如在燒結(jié)過程中出現(xiàn)氣孔,這會在絕緣子的長期運行過程中引起裂紋。時,根據(jù)瓷柱保溫層的開裂事故,瓷柱下部的損壞占總數(shù)的60%以上,主要發(fā)生在下法蘭和下法蘭之間。

電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討_no.28

  器的第一邊緣[3]。主要是因為,當使用絕緣子時,環(huán)境溫度的差異會導(dǎo)致絕緣子承受較大的內(nèi)部應(yīng)力,并且端部是機械力集中的部分。使得它更容易產(chǎn)生裂紋。大量現(xiàn)場實例的統(tǒng)計分析表明,絕緣瓷裂紋具有以下特征。

電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討_no.172

  緣體在外力的作用下會產(chǎn)生額外的應(yīng)力,從而損壞新的晶體顆粒,從而導(dǎo)致微裂紋的增加。超聲波從一個支撐物進入另一種介質(zhì)時,它在兩個支撐物之間的界面處被反射和折射,可以利用超聲波的方向性和傳播規(guī)律來檢測設(shè)備的缺陷。此,通過在瓷質(zhì)絕緣柱的表面上發(fā)射起始脈沖,在絕緣體內(nèi)部存在缺陷的情況下會產(chǎn)生反射波,這可以通過以下方式辨別絕緣體的缺陷:反射波的幅度和位置的函數(shù)[4]。聲波探傷方法主要包括縱波探傷和蠕變探傷的檢測,縱向探傷法能夠檢測對稱的探傷和側(cè)裂。變探傷方法對快速絕緣子表面的裂紋敏感,但檢測深度有限。聲波測試的準確性取決于許多因素,例如儀器和探針的性能,基臺的形狀和幾何形狀,類型,位置,深度,表面粗糙度等等。陷,操作復(fù)雜且需要專業(yè)工作。重要的問題是超聲缺陷檢測不能用于實時檢測,必須在斷電時執(zhí)行。實際操作中,瓷柱絕緣子可能會由于缺陷而及時發(fā)現(xiàn),并且在停電后的維護時間內(nèi)會發(fā)生破裂事故。于裂紋(氣隙)在高電壓的作用下會產(chǎn)生較大的畸變電場,因此當電場達到一定強度時會產(chǎn)生放電發(fā)光現(xiàn)象,因此可以觀察到用紫外線光學(xué)探傷儀檢測裂紋產(chǎn)生的放電發(fā)光并使用絕緣材料。別出裂紋缺陷。方法可以帶電檢測,但僅對瓷后絕緣子的高壓裂紋有效,電場低到足以到達光環(huán)的區(qū)域由于紫外線檢測的死角而變得有效??赡墚a(chǎn)生電暈放電[5]。當前的瓷絕緣桿的操作中,下凸緣易于產(chǎn)生應(yīng)力缺陷,但是紫外線成像方法已經(jīng)失去了在該區(qū)域進行辨別的能力。外,水泥和高鐵鐵陶瓷接頭的異物表面的開裂會引起放電發(fā)光,并且觀察現(xiàn)象與觀察到的結(jié)果沒有區(qū)別,其具有對紫外觀測的準確性影響很大。此,UV成像方法對于瓷后絕緣體的檢測率非常低,并且不是理想的缺陷檢測裝置。
  動聲檢測方法使用激勵裝置將振動激勵施加到檢測對象,并且接收器確定聲響應(yīng)特性以確定是否存在故障。此,通過向后絕緣子的底部傳輸特殊的勵磁振動波,并基于接收到的振動反饋波來分析反饋波形的頻譜,可以確定絕緣子的內(nèi)部或外部有裂紋,如果降低了機械電阻,則降低了機械裂紋,如果使絕緣層老化,則出現(xiàn)了裂紋。認值[6]。方法使用簡單并且可以執(zhí)行實時檢測。前,國內(nèi)外對振動聲波檢測技術(shù)進行了大量研究,并在耐火材料,建材,建筑材料的狀態(tài)檢測中取得了一定的應(yīng)用。素產(chǎn)品,鐵路機車部件等然而,由于該方法必須積累大量的瓷絕緣子現(xiàn)場檢查數(shù)據(jù),并獲得缺陷瓷柱中不同類型和絕緣子的振動功率譜密度的評估圖,電纜因此該方法必須逐步改善。據(jù)這項研究,現(xiàn)有的針對不同類型的瓷后絕緣子的檢測方法存在一定的缺陷,難以完全滿足對瓷絕緣子進行有效檢測和診斷的要求。此,迫切需要使用一種非??煽壳铱涩F(xiàn)場適應(yīng)的負載感應(yīng)方法來評估瓷絕緣子的性能,這將帶來明顯的經(jīng)濟和安全效益。緣的惡化不可避免地伴隨著絕緣內(nèi)部和外部電場的重新分布。
  以發(fā)現(xiàn)周圍的空間,并準確地測量空間中電場的分布變化。以通過電場測量來表征絕緣的退化[7]。前,在搜索傳輸線中的絕緣子故障的搜索中已經(jīng)應(yīng)用了大量的電場測量方法,并且已經(jīng)取得了相當大的進步。是,電場法在檢測瓷絕緣子表面缺陷方面幾乎沒有應(yīng)用,主要是因為當瓷柱的表面裂紋尺寸小于臨界尺寸時,會引起絕緣缺陷。柱絕緣子沿絕緣腿的軸線破裂(約5毫米)。場的整體分布與正常絕緣子表面的電場分布之間沒有顯著差異,由于目前的應(yīng)用,很難檢測后絕緣子的裂紋缺陷以及檢測傳輸線的方法。是,根據(jù)多個故障碰撞位置的局部電場分析,如圖2至圖3所示,相對于正常情況下的電場,裂紋處的電場強度將大大增加。
  據(jù)計算,深度為5毫米,寬度為1毫米的裂紋對局部電場畸變的影響為100%至200%,可以通過技術(shù)手段進行測量。于裂紋會引起絕緣后局部電場的嚴重變形,因此可以使用對局部電場測量值的分析來確定絕緣后是否存在缺陷。是,由于裂紋的尺寸非常小,因此精確檢測局部電場是實際應(yīng)用和檢測的關(guān)鍵。

電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討_no.91

  據(jù)用于檢測瓷柱絕緣子表面裂紋的電場方法的靈敏度分析,裂紋對電場分布的影響越大,越容易檢測到裂紋。紋破壞當裂紋的寬度為1到5 mm時,裂紋的電場變形率(變形率=(缺陷時電場的最大變形-適當情況下的電場值)/適當情況下的電場值,在計算中使用電場強度的軸向分量)75至190加裂紋的寬度較小,電纜對電場分布的影響越大,并且當裂紋的深度為1 mm且寬度為0.2-0.8 mm時,裂紋中電場的畸變率就更容易檢測到裂紋故障是75-150%。決于近表面缺陷對電場引起的絕緣柱變形的影響,缺陷越靠近絕緣體的表面,對電場分布的影響越大,靈敏度越大。常接近支柱表面的真空形式的缺陷很大。據(jù)分析,該電場檢測方法對柱狀瓷絕緣體表面的微裂紋顯示出高靈敏度和抗干擾能力,并且入口表面的孔缺陷會產(chǎn)生。測量,但是靈敏度低。此,為了能夠在實際檢查中檢測出裂紋缺陷,需要選擇適當?shù)膫鞲衅骱瓦m當?shù)牟僮鞣椒āA瞬东@絕緣子表面微裂紋的局部電場,提取了毫米級空間的軸向測量信號,采用了MEMS電場敏感芯片并設(shè)計了封裝方案。片對電場和傳感器的整體結(jié)構(gòu)敏感。

電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討_no.102

  圖4所示,已經(jīng)開發(fā)出微型空間電場傳感器。過集成檢測探針,芯片的控制電路,模擬解調(diào)電路,數(shù)據(jù)處理模塊,模塊通過預(yù)警,WiFi傳輸模塊,電源模塊和上位機,可以對瓷柱絕緣表面的軸向電場進行高精度測量。了捕獲絕緣體表面上的微裂紋,必須對絕緣體表面上的電場進行完整掃描。該文件中設(shè)計的陶瓷絕緣極的電場感測裝置由絕緣提升裝置,電場檢測裝置,控制系統(tǒng)和控制系統(tǒng)組成。信,如圖2所示。作員控制隔離提升裝置,以使電場感應(yīng)裝置能夠在支柱隔離器的軸向上移動并精確定位,從而通過以下方式執(zhí)行電場掃描:層在瓷絕緣極的軸向上。場檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)在圖6中示出。電場檢測裝置位于每一層時,電場檢測裝置的探針可以在柱周圍進行圓周操作。了執(zhí)行圓周掃描任務(wù)并最終通過合作完成瓷器。絕緣子后表面電場的完整分析。過對瓷柱絕緣表面電場的綜合分析,提供了一種檢測表面裂紋缺陷和近表面裂紋缺陷的綜合可靠的檢測方法。

電場方法在絕緣子后檢測中的應(yīng)用探討_no.26

  
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